更新時(shí)間:2024-09-26
原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀 包含的內(nèi)容:集成光譜儀/光源裝置FILMeasure 8 軟件FILMeasure 獨(dú)立軟件 (用于遠(yuǎn)程數(shù)據(jù)分析)CP-1-1.3 探頭BK7 參考材料整平濾波器 (用于高反射基板)備用燈額外的好處:每臺(tái)系統(tǒng)內(nèi)建超過130種材料庫, 隨著不同應(yīng)用更超過數(shù)百種應(yīng)用工程師可立刻提供幫助(周一 - 周五)網(wǎng)上的 “手把手" 支持
品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,化工 |
---|
原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀
F10-AR 是為簡便而經(jīng)濟(jì)有效地測試眼科減反涂層設(shè)計(jì)的臺(tái)儀器。 雖然價(jià)格大大低于當(dāng)今絕大多數(shù)同類儀器,應(yīng)用幾項(xiàng)*進(jìn)技術(shù), F10-AR 使線上操作人員經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn),就可以進(jìn)行厚度測量。
在用戶定義的任何波長范圍內(nèi)都能進(jìn)行和平均反射測試。
我們有專門的算法對硬涂層的局部反射失真進(jìn)行校正。 我們*的 AutoBaseline 能地增加基線間隔,提供比其它光纖探頭反射儀高出五倍的度。
利用可選的 UPG-F10-AR-HC 軟件升級(jí)能測量 0.25-15um 的硬涂層厚度。 在減反層存在的情況下也能對硬涂層厚度進(jìn)行測量。
我們的探頭設(shè)計(jì)能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射,使用更厚的鏡頭抑制的更多。
就像我們所有的臺(tái)式儀器一樣,F(xiàn)10-AR 需要連接到您裝有 Windows 計(jì)算機(jī)的 USB 端口上并在數(shù)分鐘內(nèi)即可完成設(shè)定。
原裝美國Filmetrics F10-RT薄膜分析儀
北京志鴻恒拓科技有限公司
地址:北京市朝陽區(qū)建國路88號(hào)soho現(xiàn)代城
© 2024 版權(quán)所有:北京志鴻恒拓科技有限公司 備案號(hào):京ICP備16029562號(hào)-5 總訪問量:562922 sitemap.xml 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登陸